GX本部 グリーンイノベーションセンターの邑上貴秋さんが、 国際学会The 2024 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)(Kyoto, 11/21-22）にて、「Evaluation of the Impacts of Vth Variation and Leakage Current on the Signal-to-Noise Ratio of a Single-Shot HDR Image Sensor with a Lateral Overflow Transistor」のタイトルで発表を行い、 “Best Paper Award”を受賞しました。
本技術は、監視、産業、スマホ、デジカメなど、暗いシーンから明るいシーンまで同時撮影が必要な、広ダイナミックレンジ性能が必要な撮影に効果を有します。特に今回は1ショットでの広ダイナミックレンジを実現しており、高速物体の撮像においてもぶれなく撮影が可能な技術を実現、報告いたしました。本発表では、構成の新規性と効果が認められての受賞となりました。
