小林努さんが、 国際学会The 2023 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)(Kyoto, 11/16-17)にて、「Impact of n+/p+-doped Polysilicon Gate in Lateral Overflow Transistor on Organic Photoconductive Film CMOS Image Sensor Dark Currents」のタイトルで発表を行いました。
2023.11.16
論文・発表
センシングデバイス